Observation of the Huygens-principle growth mechanism in sputtered W/Si multilayersT. Salditt, D. Lott, T. H. Metzger, J. Peisl, R. Fischer, J. Zweck, P. Høghøj, O. Schärpf and G. VignaudEurophys. Lett., 36 8 (1996) 565-570DOI: https://doi.org/10.1209/epl/i1996-00270-x